立手持式光谱仪X-MET8000系列在检测高温材料方面的应用

材料可靠性识别（PMI）检查有时需要测试高温下的在用组件，例如管道，反应容器等。不仅环境条件对用户和仪器都提出了挑战，所测试的合金通常还含有痕量水平的元素（例如Si，Mn，Cr，Cu）。这意味着用于合金检测的仪器必须快速，坚固，即使在这些恶劣条件下也能提供**性能。

手持式X射线荧光光谱仪（HHXRF）****的发展使我们能够应对这些挑战。

HITACHI HIGH-TECH独特的高温样品分析解决方案：全新 HERO™（耐热）窗口膜

日立高新设计了一个全新的保护性窗口膜，可以直接分析高达400ºC的高温样品中的合金元素，包括硅等轻元素！

在测试高温样品时，用户所要做的就是将正常的Prolene窗口膜换成HERO™窗口！ 不需要特殊的垫片或防护罩。

样品制备

为确保准确的检测结果，应清洁被测部件的表面。去除油漆、腐蚀和污垢时，建议使用配有锆砂盘的角磨机。



高温样品带来了的挑战：表面氧化速度非常快速，且高温合金样品的结构在高温与冷却时不同，因此如果测量相同的热或冷合金，可能会看到成分的差异。



测量程序

为了在高温条件下获得**可靠性，操作X-MET8000（配有HERO™窗口膜）非常重要，如图所示。

例如，如果测量200°C的样品，则可以使用的**测量时间为20秒。如果测量20秒，则分析之间的最小冷却时间为3分钟；如果测量10秒钟，冷却时间减少到1.5分钟（90秒）。

简单来说，温度越高，测量时间越短，冷却时间越长。

性能

配备HERO™窗口膜的X-MET8000 Expert用于测试不同温度下样品的准确度和精度。在室温（22℃）下分析——系列参考低合金钢样品，然后将合金在炉中加热，X-MET8000 Expert使用合金模式（LE FP分析，包括轻元素）在200，350和400℃下测试。

注意：在分析之前，样品的表面没有被研磨，以确保它们在测试前不会冷却。然而，加热样品表面上的严重氧化对硅（Si）结果具有显著影响，其氧化水平随温度而增加。

样品在室温和200℃下分析20秒，在350和400℃下分析15秒。二次分析之间将分析仪在室温下放置6分钟冷却。

结果表明，即使在高温下和较短的测量时间，也可以可靠地确定合金元素的含量。由于样品表面的变化，Si测量结果会有所不同。这是高温样品测试中的主要挑战，因为氧化过程在高温下快速进行。

总结

X-MET8000手持式分析仪为材料可靠性识别（PMI）检测以及制造质量保证提供快速可靠的材料识别和化学分析。借助Hitachi High-Tech独特的HERO™窗口膜，X-MET可用于测试高达400°C的热样品，使用户可以现场测试，并**限度地减少间隙时间。